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上海易微科技有限公司李金树来校介绍纳米操纵仪器

【来源:磁学实验室 | 发布日期:2009-11-09 | 作者:magnetism 】     【选择字号:
    11月5日下午,上海易微科技有限公司李金树经理来校交流德国最新推出的SEM微纳米操纵仪应用及扫描探针-透射电镜(SPM-TEM)原位力学-电学测量表征系统,有关方向的师生听取了李经理的讲座。

    讲座中李金树经理介绍了在SEM电镜及透射电镜高真空下两款新型的微纳操纵仪的工作原理及应用。SEM电镜的纳米操纵仪,在扫描电镜观察操纵过程中,可以拨动、搬移、旋转、以及进行力学测量。运用TEM纳米操纵仪,实现了TEM中的原位操纵,通过压电陶瓷驱动,在三个方向上可以移动透射电镜样品,移动精度在轴向可以达到0.001nm,X,Y方向可以到0.02nm。可以对研究的透射电镜样品施加外力,并结合透射电镜成镜,实时测量力—时间,力—位移曲线以及结构随力变化的情况。可以对样品施加外电压,从而测量纳米材料的电学特性。由于这一样品操纵分析系统的研发成功,完全改变了过去电镜工作者在样品观察过程中的被动局面,从而实现了原位操纵,开辟了全新的研究领域。

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