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FEI Tecnai F30透射电镜

【来源:磁学实验室 | 发布日期:2010-09-04 | 作者:magnetism 】     【选择字号:

                              仪器的主要功能、技术指标、学术特色和应用范围:
                               tem、hr-tem、stem、hr-stem、电子衍射、eftem、eds和lorentz透镜
                               线分辨率:0.14nm       点分辨率:0.2nm      样品最大倾角:±40°
                               高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析

                               配有凹坑仪、离子减薄、电解双喷减薄等制样设备

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