主要功能：标定普通样品的表面形貌，研究磁性样品的磁性。

       技术指标：AFM高度方向分辨率0.1nm，长度方向分辨率<1nm，MFM分辨率20~30nm。

       学术特色：可以给待测样品施加磁场，研究场下样品的磁性变化。