FEI Tecnai F30透射电镜
2010-09-04 磁学实验室
仪器的主要功能、技术指标、学术特色和应用范围：
tem、hr-tem、stem、hr-stem、电子衍射、eftem、eds和lorentz透镜
线分辨率：0.14nm 点分辨率：0.2nm 样品最大倾角：±40°
高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析
配有凹坑仪、离子减薄、电解双喷减薄等制样设备
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